尺寸檢測在制造業中運用非常普遍，而電子元器件是制造業待檢驗物件中占比重較大的類別。運用機器視覺技術的尺寸檢測系統替代了之前的人工測量，節約了大批量的人力與物力，為制造業檢測技術的發展壯大增加了驅動力。根據視覺檢測的電子元器件尺寸測量系統的測量對象是單片機芯片，系統主要包含相機標定、圖像采集、圖像預處理與邊緣提取和芯片長寬尺寸測量等流程，其關鍵就在于圖像處理與尺寸測量2個方面。選型以后重點工作。

在對圖像處理方式的對照研究，包含圖像濾波、圖像二值化及邊緣提取等流程。當中圖像濾波開展了對高斯濾波、均值濾波及中值濾波的對比分析，圖像二值化開展了對直方圖閾值法、較大類間方差法及平均值法的對比分析并最終結合3種方式運用了人工經驗選擇法確定了圖像分割的閾值。采用連通域處理的方式對圖像開展孔洞填充、邊界平滑及面積過濾最終確定了單片機芯片的最小的外接矩形。最終進行對單片機芯片的尺寸測量并開展了偏差測算與深入分析。

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